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無線和射頻
泰克帶給您信號發(fā)生和分析功能，讓您放心應對困難的 RF、無線和微波設(shè)計挑戰(zhàn)。
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無線和射頻

泰克帶給您信號發(fā)生和分析功能，讓您放心應對困難的 RF、無線和微波設(shè)計挑戰(zhàn)。

頻譜管理和干擾分析

一款令人欣喜不已的干擾搜尋器。新型 RSA306 USB 頻譜分析儀具有卓越性能，可幫助您更快找到射頻干擾。提供實時結(jié)果，而且 DPX 等出色功能使得更容易發(fā)現(xiàn)瞬態(tài)干擾和同頻干擾。

雷達/預警系統(tǒng)

隨著技術(shù)的發(fā)展，任何人都可以通過復制網(wǎng)絡(luò)上的設(shè)計信息來創(chuàng)造雷達威脅。然而，對于雷達和電子戰(zhàn)威脅要設(shè)計出有效的電子對策，卻是一項非常困難和棘手的任務。我們的創(chuàng)新測試解決方案可讓您看到以前無法看到的信號層面，為您提高系統(tǒng)功能、縮短研發(fā)周期及應對所面臨的挑戰(zhàn)提供深入信息。

功率和能效

隨著對能源效率的要求越來越高，設(shè)計師和測試儀器都面臨著新的挑戰(zhàn)。待機功率限制、更高的開關(guān)速度和信號范圍、更低漏電流的半導體器件以及 SiC 和 GaN 功率模塊的使用，正在將測試條件推向新的高度。在泰克，我們理解這些需求革新，提供功率測試解決方案，用于設(shè)計驗證、檢定、性能測試和認證。

媒體制作和傳輸

新的數(shù)字視頻技術(shù)比以前更快，通常也更復雜，需要能夠?qū)崿F(xiàn)更高性能和更詳盡分析的視頻測試設(shè)備。泰克的關(guān)鍵任務測試、測量和監(jiān)視工具幫助保持信號完整性、縮短生產(chǎn)時間、降低運營成本、保證標準一致性和優(yōu)化系統(tǒng)性能。

如果您正在研發(fā)未來的材料或器件，比如硅化物半導體、太陽能電池薄膜、石墨烯等納米材料，您便躋身于半導體技術(shù)、電子產(chǎn)品、醫(yī)療器械和衛(wèi)生保健等新應用領(lǐng)域取得突破的前沿。讓我們向您展示對這些高級材料進行準確電氣檢定的新創(chuàng)新和技術(shù)

高速串行通信

下一代數(shù)字接口標準（串行、內(nèi)存、顯示等）會推動如今的一致性和診斷工具的限制，產(chǎn)生高速 Tx 和 Rx 設(shè)計挑戰(zhàn)，包括因設(shè)備體積較小而造成的有限信號訪問具有新的節(jié)能方案的總線行為使用信號接口驗證新的信號編碼和均衡能力電子驗證測試太多，時間太少！泰克提供的自動測量套件可加快 PHY 驗證周期，并保證一致性。當一致性測量未通過時，可使用協(xié)議解碼、可視化觸發(fā)等工具來加速調(diào)試。在來源中確定抖動和噪聲，如串擾或其他多通道噪聲耦合。

EMI 問題可能會嚴重影響產(chǎn)品開發(fā)計劃。在設(shè)計流程早期進行 EMI 預兼容測試可以向您提醒相關(guān)問題，從而避免由測試機構(gòu)發(fā)現(xiàn)這些問題。您知道存在問題后，進行快速 EMI 故障排除是搜尋無用輻射和干擾源的關(guān)鍵。泰克儀器和軟件幫助您迅速執(zhí)行 EMI 診斷，以便您可以按期發(fā)布產(chǎn)品。

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