當今的電子產(chǎn)品，信號速度越來越快，集成電路芯片的供電電壓也越來越小，90年代芯片的供電通常是5V和3.3V，而現(xiàn)在，高速IC的供電通常為2.5V, 1.8V或1.5V等等。對于這類電壓較低直流電源的電壓測試（簡稱電源噪聲測試），本文將簡要討論和分析。

在電源噪聲測試中，通常有三個問題導致測量不準確
示波器的量化誤差
使用衰減因子大的探頭測量小電壓
探頭的GND和信號兩個探測點的距離過大
示波器存在量化誤差，實時示波器的ADC為8位，把模擬信號轉化為2的8次方（即256個）量化的級別，當顯示的波形只占屏幕很小一部分時，則增大了量化的間隔，減小了精度，準確的測量需要調節(jié)示波器的垂直刻度（必要時使用可變增益），盡量讓波形占滿屏幕，充分利用ADC的垂直動態(tài)范圍。在圖一中藍色波形信號（C3）的垂直刻度是紅色波形（C2）四分之一，對兩個波形的上升沿進行放大（F1=ZOOM(C2), F2=ZOOM(C3)），然后對放大的波形作長余輝顯示，可以看到，右上部分的波形F1有較多的階梯（即量化級別），而右下部分波形F2的階梯較少（即量化級別更少）。如果對C2和C3兩個波形測量一些垂直或水平參數(shù)，可以發(fā)現(xiàn)占滿屏幕的信號C2的測量參數(shù)統(tǒng)計值的標準偏差小于后者的。說明了前者測量結果的一致性和準確性。